用非接触法测试材料的介电常数
发布时间：2013-11-30 09:41
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑，两面也无法做到平行度非常好，这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差，如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能，测试样品举例如下面几幅图片。
用非接触法测试上述这些材料的介电常数，不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高，测试的准确度高。
理论上的可行性：
用非接触法测试材料的介电常数
其中：
Cg：没有被测物体，两个电极板之间的电容
Cm：有被测物体，两个电极板之间的电容
Dg：没有被测物体，两个电极板形成电容的损耗
Dm：有被测物，两个电极板行程电容的损耗
tg：电极板之间的空气间隙厚度
tm：材料的厚度
测试夹具：
WK 1J1020 测试夹具配合稳科 6500B系列精密阻抗分析仪或者在稳科 6500P 高频 LCR 表上使用，最高频率可达 40MHz。夹具设计用于夹持平面圆盘状材料，材料的直径不小于 38mm，厚度不大于 15mm。1020 夹具的两端电极之间的间距是可调整的，并通过千分尺测量，夹具图片如下图。
配合1J1020的测试软件：
在WK 6500B（P）有软件选配项/K是专门用于测试材料介电常数和磁导率的软件，可以通过此软件进行设定相关参数，在仪表上可以直接读出材料的介电常数或者绘制材料的介电常数曲线，软件的界面如下图。
更多的资料可以参考 6500 K option Material
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